� Wafer-Testkarte mit gebogener Wolframkarbid-Testspitze, 1μm vergoldete Nadel für Halbleiterinspektion

Produktbeschreibung

A: Nicht vergoldete Spitze, Durchmesser 0,1 μm (10 Stück)
B: Nicht vergoldete Nadelspitze, Durchmesser 1μm (10 Stück)
C: Nicht vergoldete Nadelspitze, Durchmesser 2μm (10 Stück)
D: Nicht vergoldete Nadelspitze, Durchmesser 5μm (10 Stück)
Nicht vergoldete Nadelspitze, Durchmesser 10μm (10 Stück)
F: Nicht vergoldete Spitze, Durchmesser 20μm (10 Stück)
G: Nicht vergoldete Spitze, Durchmesser 30μm (10 Stück)
H: Nicht vergoldete Nadelspitze, Durchmesser 50μm (10 Stück)
I: Nicht vergoldete Nadelspitze, Durchmesser 100μm (10 Stück)
J: Nicht vergoldete Nadelspitze, Durchmesser 200μm (10 Stück)
K: Nicht vergoldete Spitze, Durchmesser 300μm (10 Stück)
L: Nicht vergoldete Spitze, Durchmesser 500μm (10 Stück)
M: Vergoldete Spitze, Durchmesser 0,1 μm (10 Stück)
N: Vergoldete Spitze, Durchmesser 1μm (10 Stück)
O: Vergoldete Nadelspitze mit einem Durchmesser von 2μm (10 Stück)
P: Vergoldete Spitze, Durchmesser 5μm (10 Stück)
Q: Vergoldete Nadelspitze, Durchmesser 10μm (10 Stück)
R: Vergoldete Spitze, Durchmesser 20μm (10 Stück)
S: Vergoldete Spitze, Durchmesser 30μm (10 Stück)
T: Vergoldete Spitze, Durchmesser 50μm (10 Stück)

Produktdetails in Bildern

Produkteigenschaften

Markenname

NONE

Hochbetriebenes Chemikalienunternehmen

Keine

Ursprung

CN (Herkunft)

Model

WG050-L1.10-L2.28-0.5

applicable scenario

Wafer Testing

Needle shape

sharp

Needle material

tungsten steel,Tungsten steel alloy